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快速领略USB30问题症结与解决方案

发布时间:2020-07-21 18:12:39 阅读: 来源:二氧化氯发生器厂家

根据市调机构In-Stat年初所公布的报告指出,USB 3.0的外围应用出货量在2011年大约为7000万部,到了2014年将蓬勃发展并飙破10亿部。同时他们也预估在2015年时,笔记本电脑将成为USB 3.0接口的最大载具,届时将约有50亿个外围应用可搭载不同形式的USB接口,包含电脑、手机、主机外壳、消费性电子以及影音多媒体等产品。

换言之,随着消费性电子产品的功能特性不断升级,市场规模也随之起舞与扩张,越来越多应用都需要高带宽的传输速度来满足消费者的使用情境与体验,而USB 3.0即是目前所提出的最佳解决方案之一。除了数据传输速度比USB 2.0快上10倍外,更向下兼容目前已广泛被使用的传统USB产品,进阶后的电源管理系统不但能提高80%的供电率以提升充电效能外,更能以低功耗的状态执行作业以延长电池的使用时间。In-Stat更指出,Intel推出的Ivy Bridge处理器将首次内建并原生支持USB 3.0功能,再搭配Microsoft新一代操作系统Windows 8的推出,将成为普及USB 3.0的一大动力,也意味着USB 3.0未来全面渗透市场的无限可能。

不可否认地,USB技术已然成为链接个人电脑/手机与外部设备的规范标准。为了满足不断成长的数据带宽传输速度与需求,USB-IF在2008年正式公布了USB 3.0的技术规格,同时也带来新的设计/测试的挑战;在经过4年时间的市场探索与技术磨合,越来越多支持USB3.0产品上市,大家都期许能有更高速、更节能的USB产品。而为了达成这项技术规格的质量稳定与效能保障,从促进规范的标准化入手,建立一套完整的测试解决方案绝对是各家厂商在验证或推出USB 3.0应用产品的必经之路。因此,百佳泰特别针对在实际验证USB 3.0兼容性测试时,比较常遇到的问题跟分析做一些分享,希望可以提供厂商在开发产品时一个参考准则。

USB 3.0的兼容性测试主要分为两个类别,装置端(device)与主机端(host)。在装置端的部分,必须通过"互操作性测试"(xHCI Interoperability test)的检验,其主要是针对所有USB 3.0的产品架构所作的装置互操作性测试,让各种USB 3.0产品能与其他装置有效地互通并协同运作,不会因为软、硬件版本的不同而失效。在主机端部分,除了作互操作性测试外,还得进行另一项名为"向后兼容测试"(xHCI Backwards compatibility test)的验证,其测试标的除了整个USB产品架构外,xHCI controller还必须与现不同的USB产品(known good device)作测试,以确保不同的USB产品在这个主机端上能够正常的运作。我们可以发现,USB 3.0的推出除了代表速度与效能的技术提升外,为了确保与前代技术与装置的兼容性,类似的互操作性与向后兼容测试势必非常重要,才能让原本的USB技术维持零落差的技术条件与使用情境。与USB 2.0测试不同的是,某些测试上的问题肇因是单单发生在USB 3.0测试当中,这也意味着即使USB 2.0已高普及化,但在实际验证USB 3.0时还是会遇到许多新的难题,值得厂商与我们去一一克服和疑难解答。

问题分享一:最低SSC延展幅度不符合规范(±300 PPM)。

在Electrical Test的部分,由于USB 3.0的传输速率高于USB 2.0有十倍之多, EMI(Electromagnetic interference)的影响也相对严重;因此,在USB 3.0的规范中加入了SSC(Space Spectrum Clock)技术规范,其目的即是透过SSC来降低EMI所带来的效应,以确保USB 3.0的讯号质量不会受到影响。在USB 2.0时期,由于属较低的传输速率,受到EMI的干扰也较轻,因而未将SSC技术纳入规范;然而,随着USB 3.0的高速传输能力上升,间接地越容易受到EMI的干扰。因此,在USB 3.0的测试规范中,也特别去测试其SSC此技术来验证电子讯号的质量。

根据SSC技术规范的标准指出,其量测出的triangle讯号图,其上下展幅为: ±300 ppm(Min);-3700 ~ -5300 ppm(Max)。我们可以从图一的案例发现,其最低的展幅为333 ppm,并不在正常规范内。紧接着,我们着手进行疑难解答的动作,发现在这个情境中的问题肇因即为不正确的负载电容振荡电路的输出频率偏移,进而造成SSC展幅偏移。因此,透过改变负载电容来调整输出频率,从16pF调成20pF(表一),其最低的展频幅度为204 ppm(图二),已符合SSC技术规范要求。换言之,其问题肇因即是晶体振荡电路的电容负载值。

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